KTR009電線電纜高溫壓力試驗裝置（A型/B型）  
用于測量電線電纜絕緣和外被、插頭插座、建筑用絕緣電工套管及配件在高溫與壓力下產(chǎn)生的壓痕，以確定電線電纜絕緣護(hù)套等在高溫壓力下的彎曲試驗。與老化試驗箱配套使用。符合GB/T2951.31-2008、GB/T2951.6-1997、JB/T4278.12-2011（電纜和光纜聚氯乙烯混合料試驗方法）、JG3050-1998（建筑用絕緣電工套管及配件）等標(biāo)準(zhǔn)。  

一、電線電纜高溫壓力試驗裝置主要參數(shù)
1、試驗工位：3個  
2、刀口深度：0.7±0.01mm  
3、作用于刀片上荷重由公式求得：F=k2Dδ-δ2  
4、適用zui大直徑：55mm，其他規(guī)格依據(jù)客戶要求訂做  
5、作用于刀片上荷重：  
A型砝碼：100-1000g不銹鋼材質(zhì)100、200、300、400、  
500、600、700、800、900、1000g,每種3個共30個。  
B型砝碼：1-500g鍍鋅材質(zhì)1g一個、2g兩個、5g一個、10g一個、  
20g兩個、50g一個、100g兩個、200g一個、500g一個,每種12個共36個。  
也可由提供數(shù)據(jù)定做  
6、外形尺寸L*W*H約：255*155*330mm  
7、材質(zhì)：SUS304不銹鋼  
8、重量約：30KG      
二、試驗方法  
絕緣和護(hù)套的高溫壓力試驗  
注：本試驗方法不推薦用于厚度小于0.4mm的絕緣和護(hù)套.  
1、絕緣高溫壓力試驗  
1.1取樣  
對每個被試絕緣線芯，從每個長度為250～500mm樣段上截取3個相鄰的試樣。試樣長度應(yīng)為50-100mm。  
無護(hù)套的扁平軟線的絕緣芯不應(yīng)分開。  
1.2試樣制備  
用機(jī)械方法除去試樣上的所有的護(hù)層，包括半導(dǎo)體電層（若有的話）。根據(jù)電纜的類型，試樣可以是圓形或扇形截面。  
1.3試樣的放置  
壓痕裝置如圖1所示，由刀口厚度為（0.70±0.01mm）的矩形刀片組成,刀片可對試樣加壓.每個試樣放置在如圖1所示的位置上。無護(hù)套扁平軟線應(yīng)以扁平邊放置。小直徑試樣在支撐板上的固定方式不應(yīng)使試樣在刀片壓力下發(fā)生彎曲。扇形試樣應(yīng)放置在如圖1所示的帶扇形凹槽的支撐板上，沿垂直于試樣軸線的方向施加壓力，刀片也應(yīng)與試樣軸線垂直。  
1.4計算壓力  
刀片作用于試樣（圓形和扇形絕緣線芯）上的壓力F，以N為單位，應(yīng)按下式計算：  
F=k2Dδ-δ2  
式中：  
K---有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的系數(shù)。如沒有規(guī)定，則應(yīng)為：  
軟線和軟電纜的絕緣線芯，K=0.6  
D≤15mm的固定敷設(shè)用電纜絕緣線芯，K=0.6  
D＞15mm的固定敷設(shè)用電纜絕緣線芯及扇形絕緣線芯，K=0.7  
δ---絕緣試樣厚度的平均值；  
D---試樣外徑的平均值。  
δ和均以mm計,到小數(shù)點(diǎn)后一位。按GB/T2951.11-2008規(guī)定的試驗方法,在試樣端頭切取的薄片上測得。  
對于扇形線芯,D為扇形“背部”或圓弧部分直徑的平均值，用測量帶在電纜纜芯上測量三次后取平均值，以mm計，到小數(shù)點(diǎn)后一位（測量應(yīng)在纜芯上三個不同地方進(jìn)行）。  
作用于無護(hù)套扁平軟線試樣上的壓力應(yīng)是按上述公式計算所得的值的兩倍，其中D為1.1所述試樣短軸尺寸的平均值。  
壓力F的計算值可以向較小值化整，但舍去的值應(yīng)不超過3%。  
1.5試樣加熱  
試驗應(yīng)在空氣烘箱中進(jìn)行，試驗設(shè)備和試樣放在烘箱中不應(yīng)振動；或者放在有防振支架的空氣烘箱中進(jìn)行。任何可能引起試樣振動的設(shè)備諸如鼓風(fēng)機(jī)等，不允許直接與烘箱接觸。  
烘箱中空氣溫度應(yīng)一直保持在有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的溫度。  
未預(yù)熱的受壓試樣在烘箱中放置的時間按有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，如電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)沒有規(guī)定，則按如下規(guī)定：  
---試樣外徑D≤15mm時為4h;  
---試樣外徑D＞15mm時為6h。  
1.6試樣冷卻  
規(guī)定的加熱時間結(jié)束后（見1.5試樣加熱），試樣在烘箱中，在壓力作用下應(yīng)訊速冷卻，可用冷水噴射壓在刀口下的式樣來冷卻。絕緣試樣冷卻至室溫并不再繼續(xù)變形后，從試驗裝置中取出，然后浸入冷水中進(jìn)一步冷卻。  
1.7壓痕測量：  
試樣冷卻后立即測量壓痕深度。  
應(yīng)抽出導(dǎo)體留下管狀絕緣試樣。  
應(yīng)沿著試樣的軸線方向，垂直于壓痕從試樣上切取一窄條試片，如圖2所示。  
將窄條試片平放在讀數(shù)顯微鏡或測量投影儀下，并將十字線調(diào)到壓痕底部和試片外測（如圖2示）  
外徑約6mm及以下的小試樣應(yīng)在壓痕處和壓痕附近橫向切取兩個試片（如圖3示）。壓痕深度應(yīng)是剖面圖1和剖面圖2在顯微鏡下的測量值之差（如圖3所示）  
全部測量值均以mm計，到小數(shù)點(diǎn)后兩位。  
1.8試驗結(jié)果的評定：  
從每個試樣上切取的三個試片上測得壓痕中間值，應(yīng)不大于試樣絕緣厚度（按1.4測量）平均值的50%。  
（注：所定的50%這個值與公式的基本原則有關(guān)，并且對所有材料都是一樣的。試驗嚴(yán)格程度僅隨系數(shù)K的變化而變化，但50%這個值不變）。  
2、護(hù)套高溫壓力試驗  
2.1取樣  
對每個被試護(hù)套，在除去外護(hù)層（若有）和所有內(nèi)部組件（線芯，填充物，內(nèi)護(hù)層，鎧裝等，若有）長為（250～500mm）的樣段上截取相鄰三個試樣。試樣長度應(yīng)為50～100mm（直徑大的取較大值）。  
2.2試樣制備  
如果護(hù)套內(nèi)沒有凸脊,則沿著電纜軸線方向,從每個護(hù)套試樣上(見2.1)切取寬為圓周長三分之一的窄條（GB2951.31-2008，8.2.2）。  
如果護(hù)套內(nèi)凸脊是由于5芯以上的絕緣芯造成的，則應(yīng)按同樣的方法切取窄條并磨掉凸脊。  
如果護(hù)套內(nèi)凸脊是由5芯及以下的絕緣線芯造成的，則應(yīng)沿著凸脊方向截取窄條，窄條上至少含有一個約處于中間部位的凹槽。  
如果護(hù)套是直接包覆在同心導(dǎo)體，鎧裝或金屬屏蔽上，由此形成的凸脊不可能磨掉或削掉（大直徑的除外），則不必取下護(hù)套而將整個電纜段作為試樣。  
2.3試樣在試驗裝置中的位置  
壓痕裝置與1.3規(guī)定一樣，如圖1所示。  
窄條應(yīng)用一金屬桿或金屬管支撐，金屬桿或金屬管可沿其自身軸線方向?qū)Π敕珠_，以便更穩(wěn)定地支撐。  
金屬管或金屬桿的半徑約等于試樣內(nèi)徑的一半。  
試樣設(shè)備、窄條和支撐棒（管）的放置應(yīng)使金屬桿支撐窄條，刀片對試樣外表面加壓。  
沿著與金屬桿或金屬管或電纜（或當(dāng)用整段電纜時）的軸線相垂直的方向施加壓力，并使刀片也與試樣的軸線相垂直。  
2.4計算壓力  
除非另有規(guī)定，刀片作用于每個護(hù)套試樣上的壓力F，以N為單位，  
應(yīng)按下式計算：  
F=k2Dδ-δ2  
K---有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的系數(shù)。如沒有規(guī)定，則應(yīng)為：  
軟線和軟電纜，K=0.6  
D≤15mm的固定敷設(shè)用電纜絕緣線芯，K=0.6  
D＞15mm的固定敷設(shè)用電纜絕緣線芯及扇形絕緣線芯，K=0.7  
δ---絕緣試樣厚度的平均值；  
D---試樣外徑的平均值，對于扁平電纜或軟線，為護(hù)套試樣短軸尺寸的平均值。  
δ和均以mm計,到小數(shù)點(diǎn)后一位。按GB/T2951.11-2008規(guī)定的試驗方法測量(D為切取試樣的電纜的直徑)，在試樣端頭切取的薄片上測得。壓力F的計算值可以向較小值化整,但舍去的值應(yīng)不超過3%.  
2.5試樣加熱  
試樣應(yīng)按1.5規(guī)定的方法加熱,時間按有關(guān)電纜產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定,若沒有規(guī)定,則應(yīng)為:  
---試樣外徑D≤15mm時為4h;  
---試樣外徑D＞15mm時為6h。  
2.6試樣冷卻  
試樣應(yīng)按1.6規(guī)定的方法進(jìn)行冷卻。  
2.7壓痕測量  
壓痕應(yīng)在從試樣上截取的試片上按1.7規(guī)定的方法進(jìn)行測量，如圖2所示。  
2.8試驗結(jié)果的評定  
從被試護(hù)套試樣上切取的三個試片上測得的壓痕中間值，應(yīng)不大于按2.4測得的護(hù)套試樣厚度平均值的50%。  
注：所定的50%這個值和公式的基本原則有關(guān)，并且對所有的材料都是一樣。試驗嚴(yán)格程度僅隨系數(shù)K的變化而變化，但50%這個值不變。